温度冲击试验箱在电子产品中的应用

温度冲击试验是指在电子产品上施加快速变化的温度，用以暴露产品在低于温度变化条件下会出现的潜在缺陷。在电子产品的研制过程中，会因各种原因导致缺陷的发生。温度冲击试验是针对电子产品在实际使用中可能遇到的温度环境及应力强度，选择能激发其潜在缺陷的温度，用以确定产品在经受周围大气温度的急剧变化(温度冲击)时，产品是否产生物理损坏或性能下降使潜在缺陷加速发展成为早期故障，剔除元器件、部件的早期失效及暴露设计和制造工艺的不足，使产品的可靠性更接近实际需要，从而保证和提高电子产品的可靠性。