电子产品可靠性试验目的

一、电子产品可靠性试验目的通常有以下几个方面：

  1、在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价产品可靠性达到预定指标的情况。

  2、生产阶段为监控生产过程提供信息。

  3、对定型产品进行可靠性鉴定或验收。

  4、暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理。

  5、为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。 

  6、环境试验是考核产品在各种环境（振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等）条件下的适应能力，是评价产品可靠性的重要试验方法之一。 

  7、寿命试验是研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。 

  8、筛选试验是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。其目的是为选择具有一定特性的产品或剔早期失效的产品，以提高产品的使用可靠性。产品在制造过程中，由于材料的缺陷，或由于工艺失控，使部分产品出现所谓早期缺陷或故障，这些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保证在实际使用时产品的可靠性水平。